技術(shù)文章
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銀膜反射鏡在許多領(lǐng)域中都扮演著關(guān)鍵的角色,如光學(xué)儀器、太陽能電池板和激光設(shè)備等。為了確保其正常運(yùn)行和延長(zhǎng)使用壽命,保護(hù)銀膜反射鏡變得至關(guān)重要。以下是保護(hù)銀膜反射鏡的幾種方法和措施:1、正確的清潔是保護(hù)銀膜反射鏡的基本步驟之一。銀膜反射鏡表面容易受到灰塵、油脂和污漬的影響,這些都會(huì)降低其反射效率。因此,定期清潔是不可少的。然而,需要注意的是,清潔過程中要避免使用粗糙的材料或有損害性的化學(xué)物質(zhì),以免刮傷或腐蝕銀膜。使用柔軟的布料或?qū)iT設(shè)計(jì)的清潔工具,并配合適當(dāng)?shù)那鍧嵰哼M(jìn)行輕柔擦拭...
光纖光譜儀結(jié)構(gòu)緊湊,包括入射狹縫、準(zhǔn)直物鏡、光柵、成像反射鏡、濾色片和陣列探測(cè)器,還包括數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。光信號(hào)經(jīng)入射狹縫投射到準(zhǔn)直物鏡上,將發(fā)散光變成準(zhǔn)平行光反射到光柵上,色散后經(jīng)成像反射鏡將光譜呈在陣列接收器的接收面上,形成光譜譜面。光譜譜面既是單色光的序列排布(有次光譜影響),讓整個(gè)光譜中任一個(gè)微小譜帶照射到相對(duì)應(yīng)探測(cè)器的像元上,在此將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電子信號(hào)后,經(jīng)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換,A/D放大,后由電器系統(tǒng)控制終端顯示輸出。從而完成各種光譜信號(hào)測(cè)量分析。光纖光譜儀通常...
概述:隨著科技的不斷發(fā)展,高清晰度成像已經(jīng)成為現(xiàn)代科學(xué)領(lǐng)域中bi不可少的一部分。而在這一過程中,CCD相機(jī)作為其中極為重要的設(shè)備之一,更是被廣泛應(yīng)用于各種實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)場(chǎng)景之中。一.什么是科研級(jí)CCD相機(jī)?首先需要了解到CCD相機(jī)是基于CCD感光原理制造出來的數(shù)字影像器件,即電荷耗盡式圖像傳感器.而該類別下又有專門針對(duì)于科學(xué)研究與實(shí)驗(yàn)所設(shè)計(jì)制造出來的“科研級(jí)CCD相機(jī)”。這些攝像頭通常采用高靈敏度攝象管、低噪點(diǎn)電路和智能信號(hào)處理單元,能夠捕獲更多精準(zhǔn)數(shù)據(jù)并進(jìn)行后期處理,能夠有效...
溫度快速變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)??焖贉刈?cè)囼?yàn)箱的用途廣泛,且功能與冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)類似,與冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)不同的是,快速溫變?cè)囼?yàn)箱的溫度變化是比較恒定的,也就是溫度變化速率是比較穩(wěn)定的,箱體內(nèi)的溫度是從高溫快速降至低溫,或者從低溫快速升至高溫;而冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的溫度變化則是一會(huì)冷一會(huì)熱的情況,原因是因?yàn)槔錈釠_擊試驗(yàn)機(jī)直接使用了高溫區(qū)和低溫區(qū)的氣體來進(jìn)行冷熱變化試驗(yàn)。當(dāng)用戶需...
激光修補(bǔ)機(jī)是一種用于修復(fù)損壞的電子元器件或器件表面的設(shè)備。它使用高功率激光束來熔化或蒸發(fā)材料,從而恢復(fù)元件的功能性能。激光修補(bǔ)機(jī)已經(jīng)成為工業(yè)制造和維修領(lǐng)域的常備工具,因?yàn)樗鼈兲峁┝艘环N精確、可靠、高效的修復(fù)方法。設(shè)計(jì)基于激光器技術(shù),它將激光束聚焦在待修復(fù)部位上,以達(dá)到所需的加熱效果。激光器通常使用氬離子激光器或二氧化碳激光器,其輸出功率通常在幾千瓦到數(shù)十瓦之間。激光束的直徑可以調(diào)整,以適應(yīng)不同大小和形狀的元件,并具有高度聚焦的能力。在使用該機(jī)進(jìn)行修復(fù)時(shí),首先需要對(duì)待修復(fù)部位進(jìn)...
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的**電氣測(cè)量的研發(fā),質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查測(cè)試等用途。探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上,從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)...
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