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  • 半導體晶圓缺陷檢測儀

    半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術,通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具,為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。

    更新日期:2024-11-08
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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