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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目: ? 絕.對反射率測量 ? 多層膜解析 ? 光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光系數(shù))
● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) (相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理) ● 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高 ● 設(shè)置的測量項目少,測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外,還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量 (需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機(jī)組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統(tǒng)屬特注。)
●與產(chǎn)線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統(tǒng) ●實現(xiàn)最短2ms~的光譜測量(LE-5400) ●同以往的產(chǎn)品相比,測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型
可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察 可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍(355 nm至835 nm) 獨du特光學(xué)系統(tǒng)降低偏振誤差(1%), 并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進(jìn)行高精度測量 可以執(zhí)行最短1秒的高速測量,包括通信時間。 (在連續(xù)測量的情況下,可以更快的進(jìn)行測量,最短約20毫秒/次)
測量精度高 可瞬間測量絕對量子效率(絕對量子收率) 可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)