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高光譜測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:高光譜測(cè)試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng),其原理新穎,相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-07
  • 訪  問(wèn)  量:1328

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高光譜測(cè)試系統(tǒng)

 

  • 基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng),其原理新穎,相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。該種類型組成的成像光譜儀在效率(能量利用率)和光學(xué)畸變相比較其他類型的成 像光譜儀中性能表現(xiàn).佳。系統(tǒng)中由于采用專門研制的閃耀光柵,平均效率高達(dá)60%以上,替代了美國(guó)headwall 高效率成像光譜儀系列產(chǎn)品(注:該類型產(chǎn)品被美國(guó)列為為禁運(yùn))。匹配的相機(jī)采用SCMOS相機(jī),平均量子效率 高達(dá)60%,靈敏度和性能達(dá)到了EMCCD 相機(jī)的水平。

高光譜測(cè)試系統(tǒng)核心優(yōu)勢(shì):

  • 全反射光學(xué)設(shè)計(jì); F/2.2 大通光孔徑
  • 高效率凸面光柵;消除梯形失真和曲線彎曲
  • 寬波譜范圍;杰出的光譜/空間分辨率
  • 理想的弱照明、弱信號(hào)環(huán)境下的應(yīng)用
  • 結(jié)構(gòu)緊湊、寬視場(chǎng)角
  • 非常高的信噪比;低散射或者雜散光水平
  • 穩(wěn)定和耐用的堅(jiān)固設(shè)計(jì);高性價(jià)比,多種標(biāo)準(zhǔn)鏡頭選配

名稱

VNIR成像光譜儀

SWIR成像光譜儀

SWIR成像光譜儀

光譜范圍(nm)

400-1000

900-1700

1000-2300

分光類型

凸面光柵分光

光譜分辨率(狹縫25um)

3-4 nm

優(yōu)于10 nm

10nm

光譜分辨率(狹縫12um)

1.5-2 nm

優(yōu)于5nm

/

光學(xué)孔徑F/#

F/2.2

狹縫高度

12mm

像素色散值

0.6nm

3.6nm/pixel

7nm

光譜波長(zhǎng)精度(nm)

優(yōu)于1

優(yōu)于2

優(yōu)于4

光學(xué)系統(tǒng)效率(平均)

60%

光譜通道

256-1152(可編程)

220

空間通道

2048

320

SCMOS相機(jī)

像元:6.5um*6.5um像元 數(shù):2048*1152 QE>70%@595nm

像元:15um*15um 像元數(shù):640*512

像元:30um*30um 像元數(shù):320*256

數(shù)據(jù)量化位數(shù)

16

12

前置鏡頭

焦距17mm

焦距4.8-70mm,可選配

儀器重量(kg)

4.2

4.5

尺寸(mm)

215*175*110

260*175*110

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