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嵌入式膜厚檢測(cè)儀

簡(jiǎn)要描述:● 采用分光干涉法

● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)(專zhuan利 第4834847號(hào))

● 使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng)

● 可嵌入至各種制造設(shè)備。

● 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚

● 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量

● 采用壽命長(zhǎng)、安全性高的白色LED光源

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-08
  • 訪  問  量:155

推薦產(chǎn)品

詳細(xì)介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

產(chǎn)品信息

測(cè)量項(xiàng)目

多層膜厚解析

用 途

光學(xué)薄膜(超硬涂層、AR薄膜、ITO等)

FPD相關(guān)(光刻膠、SOI、SiO2等)

設(shè)備構(gòu)成

單點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測(cè)儀

半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測(cè)量

玻璃基板的面內(nèi)分布測(cè)量

多點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測(cè)儀

實(shí)時(shí)測(cè)量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

導(dǎo)線型

嵌入式膜厚檢測(cè)儀

實(shí)時(shí)測(cè)量

寬度方向品質(zhì)管理

測(cè)量案例

超硬涂層的膜厚解析

嵌入式膜厚檢測(cè)儀







上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。


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