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相位差測量裝置 RETS-100nx New

簡要描述:采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器

有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板

安全對策和粒子對策,可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:109

推薦產(chǎn)品

詳細介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

產(chǎn)品信息

特 點

● 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
● 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策,可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

測量項目

● 封入cell gap
● twist角
● rubbing角
● pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA]
● 空cell gap
● 相位差(復(fù)折射相位差)的波長分散
● 光學(xué)軸
● 橢圓率/方位角
● 三次元折射率/Rth/β
● 分光光譜/色度

測量對象

● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應(yīng)電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光學(xué)材料
- 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)

仕 樣

型號RETS series
樣品尺寸20mm×20mm ~ *
cell gap測量范圍0.1μm ~ 數(shù)10μm
cell gap重復(fù)性±0.005μm
檢出器多通道分光光度計
測量波長范圍400nm ~ 800nm
光學(xué)系
透過用偏光子unit
偏光光學(xué)系
消光比 10-5內(nèi)置Gran-tomson prism(方解石)
自動旋轉(zhuǎn)(角度精度0.1°)、自動裝卸機構(gòu)
測量口徑φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機構(gòu)-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

* 大型玻璃基板也可用(2000mm×2000mm以上)

測量案例

相位差與液晶層間隙值

相位差測量裝置 RETS-100nx New

液晶面內(nèi)分布圖

相位差測量裝置 RETS-100nx New


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