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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光譜系統(tǒng) > 顯微缺陷膜厚 > 線掃描膜厚儀（在線型）
簡要描述：●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量●不受偏差影響●可對應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：227產(chǎn)品中心
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詳細介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
|---|
| 膜厚范圍 | 0.1～300 μm |
| 測量幅度 | 500 mm～最大10 m |
| 測定間隔 | 1 ms～ |
| 裝置大小(W×D×H） | 81×140×343 mm |
| 重量 | 4 kg(僅頭部) |
| 最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
500mm寬的包裝薄膜
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