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分光輻射照度測量系統(tǒng)

簡要描述:該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:136

推薦產(chǎn)品

詳細介紹

品牌OTSUKA/日本大冢

產(chǎn)品信息

特殊長度

該檢測器
是一種高性能的分光光度計,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。

覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

帶軟件的樣品照明電源,測量儀器批量控制
LIV測量,脈沖點測量,樣品溫控測量

設備校準的標準燈由我們自己的部門提供,并由 JCSS 校準公司注冊。

 

評價項目

照度、輻照度

光譜數(shù)據(jù)(光譜輻照度)

其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、
u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數(shù) Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

設備構成

    單點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

半導體晶圓的面內(nèi)分布測量

玻璃基板的面內(nèi)分布測量

 

        多點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

 

        導線型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

   超硬涂層的膜厚解析

分光輻射照度測量系統(tǒng)

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