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當(dāng)前位置:首頁(yè)  >  產(chǎn)品中心  >  光譜系統(tǒng)  >  顯微缺陷膜厚

  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS

    ●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置。 ●適用于粒徑測(cè)量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)。

    更新日期:2024-11-08
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • OPTM series 嵌入型

    利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn),在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。

    更新日期:2024-11-08
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300

    ●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對(duì)齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元

    更新日期:2024-11-08
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)

    ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。

    更新日期:2024-11-08
    型號(hào):ELSZ-2000系列
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)

    QE-2000熒光量子效率測(cè)試系統(tǒng)瞬間測(cè)量絕.對(duì)量子效率。適用于粉末、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測(cè)量。通過(guò)低雜散光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域 的雜散光。

    更新日期:2024-11-07
    型號(hào):QE-2000
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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