產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體材料測試 >
半導(dǎo)體材料測試
相關(guān)文章
深能級瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導(dǎo)體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測定各種深能級相關(guān)參數(shù)，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。
對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。
拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
iSR是一種微光斑測試技術(shù)，用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng)，適合各種薄材料的研究。
公司地址：上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造J6區(qū)202室公司郵箱：qgao@buybm.com
TEL：021-61052039
在線留言