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簡(jiǎn)要描述:原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備,可靈活配置和測(cè)試,具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。
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品牌 | 波銘科儀 |
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Surface topography 表面形貌
Electrical properties 電學(xué)性質(zhì)
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Magnetically properties 磁學(xué)性質(zhì)
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