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  • SIRM紅外體微缺陷分析儀

    SIRM是非接觸和非破壞型光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，對(duì)體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯(cuò)、堆垛層錯(cuò)，體材料中的滑線和空隙等進(jìn)行測(cè)試。 這個(gè)技術(shù)也可對(duì)GaAs 和 InP等復(fù)合材料進(jìn)行測(cè)試。

    更新日期：2024-11-08
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • LST體微缺陷測(cè)試設(shè)備

    LST是檢測(cè)半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機(jī)，對(duì)入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。

    更新日期：2024-11-08
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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