產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體材料測試 > 體微缺陷測試 > LST體微缺陷測試設(shè)備
簡要描述：LST是檢測半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機(jī)，對入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：147產(chǎn)品中心
相關(guān)文章
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 波銘科儀 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
物鏡自動調(diào)節(jié)
納米級移動
對缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm–3
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
產(chǎn)品咨詢
在線留言