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簡要描述：LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
產(chǎn)品型號：LEIModel1605廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-08訪 問 量：123產(chǎn)品中心
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 波銘科儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
快速，非破壞
霍爾遷移率
方塊電阻
提高測試的重復(fù)性
與VDP法測試保持一致
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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