日本xxxx丰满老妇_无人区中文在线高清完整免费版_农村大炕岳看到我硬了_被硕大撞进宫口宫交_亚洲a∨天堂久久

Product Center

產(chǎn)品中心

當前位置：首頁  >  產(chǎn)品中心  >  半導體材料測試  >  半導體多功能測試

  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-2000半導體多功能測試

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數(shù)測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
共 3 條記錄，當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
全國客服
咨詢熱線 021-61052039 在線留言

公司地址：上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造J6區(qū)202室
公司郵箱：qgao@buybm.com

微信客服
Copyright©2024 上海波銘科學儀器有限公司 版權所有    備案號：滬ICP備19020138號-2    sitemap.xml    技術支持：化工儀器網(wǎng)    管理登陸