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WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試

簡(jiǎn)要描述:WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發(fā)光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-08
  • 訪  問(wèn)  量:121

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品牌波銘科儀價(jià)格區(qū)間面議
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合

· Measurement Options.
· μ-PCD 技術(shù)做少子壽命掃描測(cè)試
· 表面光電壓(SPV)做擴(kuò)散長(zhǎng)度面掃描測(cè)試
· 光誘導(dǎo)電流(LBIC)測(cè)試材料缺陷分布
· 測(cè)試特定金屬雜質(zhì)和沾污:Fe
· 渦流法測(cè)試電阻率
· 4探針測(cè)試電阻率

WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試





上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

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