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產(chǎn)品中心

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  • LEI Model2017B汞探針測(cè)試

    LEI Model2017B，通過(guò)汞探針接觸方法，對(duì)各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

    更新日期：2024-11-08
    型號(hào)：LEI Model2017B
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 汞CV測(cè)試系統(tǒng)

    汞CV測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試; MCV-530L可測(cè)最大200mm的樣品。

    更新日期：2024-11-08
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng)

    CV-1500，用于測(cè)試界面和介電層的科研平臺(tái)，基于SDI Corona-Kelvin技術(shù)，可以進(jìn)行非接觸C-V/I-V測(cè)試。

    更新日期：2024-11-08
    型號(hào)：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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