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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體材料測試 > CV測試 > LEI Model2017B汞探針測試
簡要描述：LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
產(chǎn)品型號：LEI Model2017B廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：119產(chǎn)品中心
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