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對小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測試的關(guān)鍵技術(shù)。

拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。

原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。

iSR是一種微光斑測試技術(shù)，用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試

光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng)，適合各種薄材料的研究。

WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測試。

WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點。

● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高● 設(shè)置的測量項目少，測量簡單● 測量波長...

●與產(chǎn)線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統(tǒng)●實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）●同以往的產(chǎn)品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。

采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨du特光...